Differences

This shows you the differences between two versions of the page.

--- microscope:sem:p-z [2014/08/10 19:15] – created mcmaster
+++ microscope:sem:p-z [Unknown date] (current) – removed - external edit (Unknown date) 127.0.0.1
@@ Line 1: / Line 1: @@
-^Image ^Vendor ^Model ^Year ^kV ^Gun ^Resolution (nm) ^Features ^List price ^Ask price ^Manual ^Schem ^SW ^Notes |
-|  |Phillips |FEG XL 40 |  |  |  |  |EDAX |  |[[http://www.ebay.com/itm/PHILIPS-FEG-XL-40-SCANNING-ELECTRON-MICROSCOPE-W-EDAX-PV9760-57-/300980801721?pt=LH_DefaultDomain_0&hash=item4613da90b9|100,000]] |  |  |  |  |
-|  |Phillips |501 |1977 |30 |  |7 |  |  |  |  |  |  |[1970s] |
-|  |Phillips |501B |1979 |30? |  |7? |EDS, WDS |  |  |  |  |  |[1970s] |
-|  |Phillips |SEM 505 |1980 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |"new doped-yttrium silicate scintillator for the   detection of backscattered electrons in its 1980 model SEM 505; this new   detector was 200 times more sensitive to backscattered electrons than   previous scintillators" [1980s] |
-|  |Phillips |SEM 515 |1984 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |"improved on the 505 by   adding computer-controlled automatic focussing and astigmation correction" [1980s] |
-|  |Phillips |SEM 525 EB |1985 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |"created for functional testing of ICs" [1980s] |
-|  |Phillips |SEM 525 IC |1985 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |"designed for the non-destructive testing of semiconductor wafers" [1980s] |
-|  |Phillips |EM 300 accessory |1968 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |"attachment turned the TEM into an STEM" [1960s] |
-|  |Phillips |PSEM 500 |1972 |50 |  |10 |  |  |  |  |  |  |"Philips' first SEM" [1970s] |
-|  |Phillips |PSEM 500M |1973 |50? |  |10? |  |  |  |  |  |  |"designed for larger samples, accommodating   specimens with dimensions of 153 mm x 146 mm x 84 mm" [1970s] |
-|{{:microscope:sem:dc:phillips:xl40:dc_sem.jpg?300}} |Phillips |XL-30 |  |  |W |3.5nm @ 30kV |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |RCA |EMU-3 |  |  |  |  |  |  |[[http://www.ebay.com/itm/RCA-Electron-Microscopes-Vintage-EMU-3-and-EMU-4-/331036772721?pt=LH_DefaultDomain_0&hash=item4d13544971|275,000 for EMU-3/4 (way overpriced?)]] |  |  |  |  |
-|  |RCA |EMU-4 |  |  |  |  |  |  |[[http://www.ebay.com/itm/RCA-Electron-Microscopes-Vintage-EMU-3-and-EMU-4-/331036772721?pt=LH_DefaultDomain_0&hash=item4d13544971|275,000 for EMU-3/4 (way overpriced?)]] |  |  |  |  |
-|  |SEC |SNE-1500M |  |  |  |  |  |  |  |[[http://siliconpr0n.org/media/sec/sne-1500m/SNE-1500M Manual_eng_042308[1].pdf|Yes]] |  |  |Tabletop |
-|  |SEC |SNE-3000M |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |Tabletop |
-|  |SEC |SNE-3000MB |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |Tabletop |
-|  |SEC |SNE-3200M |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |Tabletop |
-|  |SEC |SNE-4500M |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |Tabletop |
-|  |Seron |AIS2100C |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Seron |AIS2200 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Seron |AIS2300C |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Tescan |VEGA3 |  |  |  |  |  |  |  |[[http://siliconpr0n.org/media/tescan/vega3/VEGA_manual_GEN_3_04_tisk.pdf|Yes]] |  |  |  |
-|  |Topcon |ABT-32 |  |  |  |[[http://ds130.com/ABT-32.htm|5]] |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Topcon |ABT-60 |  |  |  |[[http://ds130.com/ABT-60.htm|4]] |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Topcon |ABT-150 |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Topcon |SM-720 |  |  |  |[[http://ds130.com/SM-720.htm|0.9]] |  |  |  |  |  |  |  |
-|  |Zeiss |DSM 960 |  |  |  |  |  |  |[[http://www.ebay.com/itm/ZEISS-SEM-Scanning-Electron-Microscope-Model-DSM-960-Turbo-Pump-/151026866735?pt=LH_DefaultDomain_0&|link]] |  |  |  |  |
-|  |Zeiss |NEON 40 EsB |  |  |FE |2.5 nm @ 1 kV |  |  |  |  |  |  |"Canion FIB column" |
-|  |Zeiss |SIGMA |  |  |  |  |  |  |  |[[http://siliconpr0n.org/media/carl_zeiss/sigma/SEM_manual.pdf|Yes]] |  |  |  |
-|  |Zeiss |Supra 55VP |  |  |FE |   \\ 1.7 nm @ 1 kV                \\   \\ 2 nm @ 30 kV (VP)  |  |  |  |  |  |  |  |